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MINITEST 720涂层测厚仪

MINITEST 720涂层测厚仪


品牌:德国EPK

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产品描述

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MINITEST 720涂层测厚仪
德国EPK MINITEST 720涂层测厚仪
测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置探头使用
MINITEST 720涂镀层测厚仪FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错
SIDSP使测量不受干扰,测值更加精确
可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
温度补偿功能避免温度变化引起的错误
生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
读数和统计值能单独调出
超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
菜单指引操作,25种语言可选
带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
可下载更新软件
德国EPK MINITEST 720涂层测厚仪
使用简单方便
    MINITEST 700按照人体工学设计,外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性,MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头,方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的720。730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。
预设选项节省您的时间和金钱
所有MINITEST 700探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时,整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和金钱,仪器预设了大量校准方法,适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准,零点校准,2点校准和3点校准。另外,还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN 探头自动识别基体类型避免操作者犯错。为适应全球销售需要,MINITEST 700满足各种国际标准:SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亚(AS 3894.3),ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。

增加了测量速度设置选项
MINITEST 700可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下,您可以短时间测量大量数值;也可以只测量少数几个数值,但要求精度很高,您只需选择相应的模式就可以做到。测量值超过您所设定的极限值时,仪器会报警,保证您即使在快速模式下也不会错过任何信息。仪器具备声、光报警,在极限范围内用绿色LED灯表示,超过极限值则用红色LED灯提示。

德国EPK涂层测厚仪 MINITEST 720 的技术参数:


型号
特性
MINITEST 720 MINITEST 730 MINITEST 740
探头类型 内置 外置 内置外置可换
数据记忆组数 10 10 100
存储数据量 最多10,000个 最多10,000个 最多100,000个
统计值 读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合国际标准和规范 ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准
校准模式 出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值
极限值监控 声、光报警提示超过极限
测量单位 um,mm,cm;mils,inch,thou
操作温度 -10℃-60℃
存放温度 -20℃-70℃
数据接口 IrDA 1.0(红外接口)
电源 2节AA电池
标准 DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
体积 157mm x 75.5mm x 49mm
重量 约175g 约210g 约175g(内置)/230g(外置)

德国EPK SIDSP探头技术数据表


探头
特性
F1.5,N0.7,FN1.5 F2 F5,N2.5,FN5 F15
F N F F N F
测量范围 0-1.5mm 0-0.7mm 0-2mm 0-5mm 0-2.5mm 0-15mm
使用范围 小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用 粗糙表面 标准探头,使用广泛 厚涂层
测量原理 磁感应 电涡流 磁感应 磁感应 电涡流 磁感应
信号处理 探头内部32位信号处理(SIDSP)
精确度 ±(1μm+0.75%读值) ±(1.5μm+0.75%读值) ±(5μm+0.75%读值)
重复性 ±(0.5μm+0.5%读值) ±(0.8μm+0.5%读值) ±(2.5μm+0.5%读值)
低端分辨率 0.05μm 0.1μm 1μm
最小曲率半径(凸) 1.0mm 1.5mm 5mm
最小曲率半径(凹,外置探头) 7.5mm 10mm 25mm
最小曲率半径(凹,内置探头) 30mm 30mm 30mm
最小测量面积 Φ5mm Φ10mm Φ25mm
最小基体厚度 0.3mm 40μm 0.5mm 0.5mm 40μm 1mm
连续模式下测量速度 每秒20个读数
单值模式下最大测量速度 每分钟70个读数
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