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HCH-2000F超声波测厚仪

HCH-2000F超声波测厚仪



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产品描述

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HCF-2000F超声波测厚仪
     超声波测厚仪HCF-2000F
探头发射的超声波脉 冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
     HCF-2000F测厚仪采用微电脑对数据时行分析、处理、显示,采用高度优化的测量电路,具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点。
 HCF-2000F超声波测厚仪 技术参数
 
测量范围: 0.65-260.0mm
 声速范围: 1000-9990m/s
 测量精度:0.5% *厚度值±0.01mm 
 显示精度: ±0.01mm
 数据输出接口:可连微机、打印机
 数据存储: 254个测量点
 公/英制转换
 校准值记忆,白色背光
 大屏幕全中文汉显
 外型尺寸: 175*70*25mm

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