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HCH-2000C超声波测厚仪

HCH-2000C超声波测厚仪



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产品描述

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HCF-2000C超声波测厚仪
     超声波测厚仪HCF-2000C
探头发射的超声波脉 冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
     HCF-2000C测厚仪采用微电脑对数据时行分析、处理、显示,采用高度优化的测量电路,具有测量精度高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点。
 HCF-2000C超声波测厚仪 技术参数
 测量范围:0.7-199.9mm
 声速范围:1000-9999m/s
 显示精度:±0.1mm
 数据存储:253个测量点
 电源:一节5#电池
 金属机壳·自动背光
 校准值自动记忆
 外型尺寸:50×95×24mm
 可配高温探头, ,

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